什么是無(wú)損探傷？

無(wú)損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段。

常用的探傷方法有哪些？

常用的無(wú)損探傷方法有：Xl光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著色探傷等方法。

試述磁粉探傷的原理？

它的基本原理是：當(dāng)工件磁化時(shí)，金屬無(wú)損探傷，若工件表面有缺陷存在，由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁，形成局部磁場(chǎng)，軌道無(wú)損探傷，磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置，從而判斷缺陷的存在。

探傷檢測(cè)是指探測(cè)金屬資料或部件外部的裂紋或缺點(diǎn)。

　　常用的探傷辦法有：Xl光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲入滲出探傷（著色探傷）、渦流探傷、γ射線探傷、熒光探傷等辦法。

X和γ射線的波是非，可以或許穿過(guò)必定厚度的物資，而且在穿透的過(guò)程當(dāng)中與物資中的原子產(chǎn)生相互作用。這類相互作用惹起輻射強(qiáng)度的衰減，衰減的水平又同受檢資料的厚度、密度和化學(xué)身分無(wú)關(guān)。是以，當(dāng)資料外部存在某種缺點(diǎn)而使其部分的有用厚度、密度和化學(xué)身分轉(zhuǎn)變時(shí)，會(huì)在缺點(diǎn)處和四周地區(qū)之間惹起射線強(qiáng)度衰減的差別。假如用恰當(dāng)介質(zhì)將這類差別記載或表現(xiàn)進(jìn)去，鋼管無(wú)損探傷，便可據(jù)以評(píng)估受檢資料的外部品質(zhì)。X射線查驗(yàn)和γ射線查驗(yàn)，根本道理和查驗(yàn)辦法無(wú)原則差別，分歧的只是射線源的得到方法。X射線源是由各類X射線機(jī)、電子感到和直線組成的從低能(幾千電子伏)到高能(幾十兆電子伏)的系列，無(wú)損探傷，可以或許反省厚至600mm的鋼材。γ射線是性同位素在衰變過(guò)程當(dāng)中輻射進(jìn)去的。



超聲波探傷儀為什么要做記錄和檢測(cè)報(bào)告？答：任何工件經(jīng)過(guò)超聲波探傷后，都必須出據(jù)探傷報(bào)告以作為該工件質(zhì)量好壞、是否合格的憑證，一份正確的探傷報(bào)告，除建立可靠的檢測(cè)方法和結(jié)果外，很大程度上取決于原始探傷記錄和后出據(jù)的探傷報(bào)告是非常重要的，如果我們超聲波探傷儀檢測(cè)了工件不作記錄也不出報(bào)告，那么對(duì)該工件進(jìn)行超聲波探傷檢測(cè)就毫無(wú)意義。超聲波探傷儀探傷時(shí)焊縫中的缺陷怎樣進(jìn)行分類？答：1、利用焊縫超聲波探傷儀進(jìn)行探傷時(shí)一般把焊縫中的缺陷分成三類：分別是點(diǎn)狀缺陷、線狀缺陷和面狀缺陷。2、在分類中把長(zhǎng)度小于10mm的缺陷叫做點(diǎn)狀缺陷；一般不測(cè)長(zhǎng)，小于10mm的缺陷按5mm計(jì)。把長(zhǎng)度大于10mm的缺陷叫做線狀缺陷。把長(zhǎng)度大于10mm高度大于3mm的缺陷叫做面狀缺陷。



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