半導體檢測顯微鏡DMM-660C
 
一、半導體檢測顯微鏡儀器的主要用途和特點
    DMM-660系列研究型半導體檢測顯微鏡（大平臺金相顯微鏡）配有大移動范圍的載物臺、落射照明器、平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置，是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。適用于學校、科研、工廠等部門使用。
   DMM-660C研究型半導體檢測顯微鏡（大平臺三目正置金相顯微鏡）是將精銳的光學顯微鏡技術、***的光電轉換技術、***的計算機成像技術***地結合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。既可人工觀察金相圖像,又可以在計算機上很方便地適時觀察金相圖像，并以隨時***下來,從而對金相圖譜進行分析,評級等,還可以保存或打印出高像素金相照片。