美國(guó)Foresite C3表面清潔度測(cè)試儀

美國(guó)Foresite C3/CI表面離子濃度判定儀是美國(guó)Foresite實(shí)驗(yàn)室研發(fā)的一款測(cè)試和判定PCB、PCBA等半成品電子產(chǎn)品和IC、BGA等元器件的單點(diǎn)或局部離子污染度，目前已成歐美企業(yè)判定產(chǎn)品離子濃度是否合格而公認(rèn)的一款測(cè)試儀器，經(jīng)Foresite實(shí)驗(yàn)室出具有的測(cè)試報(bào)告更具行業(yè)的***性和公認(rèn)性。

C3電路板表面清潔度測(cè)試儀操作界面簡(jiǎn)捷、節(jié)省時(shí)間、使用方法易于掌握。C3的出現(xiàn)使電路板局部清潔度的判定更為方便、快捷，降低了使用者的時(shí)間成本，提高了檢測(cè)效率。是實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)產(chǎn)品潔凈度，工廠在線管控產(chǎn)品清潔度品質(zhì)的***。它的出現(xiàn)代表電子產(chǎn)品對(duì)清潔度新的品質(zhì)要求，電子行業(yè)對(duì)潔凈度品質(zhì)要求的提升。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

l 主產(chǎn)針對(duì)單點(diǎn)的局部的離子污染度的測(cè)試和判定

l 應(yīng)用范圍：可測(cè)試PCB、PCBA等電子成品半成品產(chǎn)品，IC、BGA等元器件產(chǎn)品。

l 可任意選擇產(chǎn)品位置，測(cè)試局部清潔度判定體積小

l 測(cè)試位置面積為0.1in²

l 測(cè)量值***至0.01

l 測(cè)試時(shí)間***至1/4秒

l 電流測(cè)試單位uA

l 可輸出電子檔測(cè)試報(bào)告，易于測(cè)試數(shù)據(jù)整理

工作原理：

通過對(duì)高純水加熱后打到被測(cè)試產(chǎn)品表面，萃取產(chǎn)品表面殘留的贓物，根據(jù)萃取溶液電導(dǎo)率的高低判斷電路板表面臟污程度。

聯(lián)系人：陳先生

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